Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀

Winner601?納米粒度及電位分析儀是濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司推出的新一款具備zeta電位和納米粒度雙重測試能力的動態(tài)光散射粒度儀產(chǎn)品。 Winner601使用電泳光散射技術(shù)測定zeta電位，求出等電點，是認(rèn)識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應(yīng)用于各項試驗。

關(guān)鍵詞：

納米粒度電位儀納米粒度及電位分析儀 zeta電位 Winner601

所屬分類：

納米粒度及電位儀

咨詢熱線：

400-019-1982

更多產(chǎn)品

詢價

Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀

產(chǎn)品簡介：

Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀是濟(jì)南微納推出的高端動態(tài)光散射分析系統(tǒng)，實現(xiàn)納米粒徑與Zeta電位同步測量。

系統(tǒng)融合動態(tài)光散射（DLS）與電泳光散射（ELS）兩大核心技術(shù)，可精準(zhǔn)測定粒徑分布、Zeta電位及等電點，為納米顆粒穩(wěn)定性評價提供完整數(shù)據(jù)支撐。通過對顆粒尺寸與表面電性協(xié)同分析，助力用戶深入理解分散體系穩(wěn)定機(jī)制，廣泛應(yīng)用于材料研發(fā)、配方優(yōu)化、表面改性及質(zhì)量控制等領(lǐng)域。

Winner601使用電泳光散射技術(shù)測定zeta電位，求出等電點，是認(rèn)識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應(yīng)用于各項試驗。

產(chǎn)品特點和優(yōu)勢：

1.電泳+光子相關(guān)雙核心技術(shù)

系統(tǒng)采用電泳光散射技術(shù)測定Zeta電位，通過分析顆粒在電場中的遷移行為，精準(zhǔn)計算其表面電勢特征；同時結(jié)合光子相關(guān)光譜技術(shù)獲取納米粒徑分布信息。

基于多普勒頻移與時間相關(guān)函數(shù)的高精度信號解析算法，系統(tǒng)能夠在復(fù)雜液相環(huán)境中識別微弱散射信號變化，實現(xiàn)對納米級顆粒運(yùn)動的精確捕捉。通過粒徑與電位數(shù)據(jù)的協(xié)同分析，為用戶提供更加完整的分散穩(wěn)定性評估方案。

2.精密樣品池系統(tǒng)，保障測試純凈度與重復(fù)性

儀器配備低容量可拋棄粒度池與毛細(xì)管電極池，兼顧精度與便捷。樣品池光學(xué)性能優(yōu)異、電場均勻，有效減少雜散光與信號畸變，提升測量穩(wěn)定性。一次性使用設(shè)計顯著降低交叉污染風(fēng)險，確保測量環(huán)境純凈，為高靈敏度納米測試提供可靠保障。

3.高集成度分析平臺，提升實驗效率

高度集成納米粒徑與 Zeta 電位分析功能，一機(jī)完成顆粒尺寸與表面電性綜合表征。智能化軟件以直觀圖譜呈現(xiàn)結(jié)果，支持多維數(shù)據(jù)對比與趨勢分析，助力用戶快速把握體系變化規(guī)律，提升研發(fā)與質(zhì)控效率。

4.高精度光學(xué)系統(tǒng)，強(qiáng)化納米信號捕獲能力

系統(tǒng)憑借優(yōu)化光路、高穩(wěn)定激光源與高靈敏探測技術(shù)，實現(xiàn)納米尺度高信噪比信號采集，有效降低環(huán)境干擾，確保測試穩(wěn)定性與重復(fù)性。Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀廣泛應(yīng)用于材料、生物、制藥及化工領(lǐng)域，為乳液、膠體、蛋白質(zhì)溶液及納米懸浮體系提供可靠的數(shù)據(jù)支撐。

技術(shù)參數(shù)：

適用范圍：

Winner601 納米粒度及電位分析儀同時具有Zeta電位及納米粒徑的分析測試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體等的粒度和表面電位測量，能廣泛應(yīng)用于精細(xì)化工行業(yè)納米材料、表活、低聚物等的研發(fā)和生產(chǎn)質(zhì)控，同時也是油墨，醫(yī)藥制劑等行業(yè)產(chǎn)品研發(fā)及質(zhì)控檢測儀器。

無

Winner802/803光子相關(guān)納米粒度儀